深圳市美程精密电子有限公司
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X-RAY测厚仪 X射线荧光光谱测厚仪 XTU-4C

价格 228000.00/台
起订量 ≥1
所在地 广东 深圳 可售量 10000台

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基本参数

产地 中国 是否进口
加工定制 品牌 Elite
型号 XTU-4C 测量范围 Cl(17)-U(92)
测量精度 0.005um 分辨率 0.001um
是否跨境货源

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咨询热线:0755-27087680

仪器简介

       XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

   搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。

   检测78种元素镀层·0.005um检出限·最小测量面积0.002mm2·最深凹槽可达90mm。

   外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mmX-Y/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。

 

 

 板 汽车配件 芯片1 卫浴产品2  汽车把手3 金

应用领域

   线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

   镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

   手表、精密仪表制造行业

   钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

   卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   电镀液的金属阳离子检测 

性能优势:

   下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm.

   微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

   高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

   精密微型滑轨:快速精准定位样品。

   EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

 

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项       目 参        数
测量元素范围 Cl(17)-U(92)
涂镀层分析范围 各种元素及有机物
分析软件 EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析
软件操作 人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误
X射线装置 W靶微聚焦加强型射线管
准直器 Ø 0.05 mm  ;Ø 0.1 mm;Ø 0.2 mm;Ø 0.5 mm;四准直器自动切换
最近测距光斑扩散度 10%
测量距离 具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察 1/2.5彩色CCD,变焦功能
对焦方式 高敏感镜头,手动对焦
放大倍数 光学38-46X,数字放大40-200倍
样品台尺寸 500mm*360mm
移动方式 高精密XY手动滑轨
可移动范围 50mm*50mm
随机标准片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

 



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