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测厚仪标准片 镀Sn标准片类型及参数

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基本参数

备注1 测厚仪标准片 备注2 校正片
备注3 又称标准箔 备注4 膜厚片
备注5 通用于所有X荧光光谱测厚仪 备注6 Thermo
备注7 Veeco 备注8 Micro Pioneer XRF-2000Seiko Sll

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镀Sn

Sn3.17μm/Cu

Sn2.16μm/Ni1.86μm/Cu

Sn2.28μm/Cu2.60μm/Fe

测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X荧光光谱测厚仪(Elite、Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000Seiko Sll、天瑞、华为计量等),本公司标准片规格齐全,可送检第三方出具得CANS证书,为仪器精准测试保驾护航,欢迎您来电咨询!

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