厂家直销 镀层测厚仪 镀层厚度检测仪 涂层测厚仪
价格 | ¥150000.00/台 | |
起订量 | ≥1 | |
所在地 | 广东 东莞 | 可售量 10000台 |
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基本参数
品牌 | 全壹 | 型号 | Ux-720 |
加工定制 | 是 | 测量范围 | 0.003-50um |
类型 | 镀层测厚仪 | 精度 | 2PPM |
外形尺寸 | 500*500*380 | 重量 | 30kg |
分辨率 | 145eV | 显示方式 | 计算机视窗输出 |
电源电压 | AC220V,50/60Hz | 测定对象 | 金属镀层,合金镀层 |
镀层测厚仪
产品功能:
1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
5. Ux-720镀层测厚仪采用了我司 新 技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
我们的六大技术优势
一、FP基本参数法 基本参数法(FP法)是根据X射线荧光强度与元素含量、厚度等的函数关系,应用核物理、应用数学、计算机等领域内的前沿研究成果,依据X射线荧光激发样品物理机制所提供的数学校正方法,该测试方法适用于分析无标样或少标样的样品,在合金、陶瓷、多元半导体材料、考古、地质样品领域有广泛应用空间。 |
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二、偏振二次靶技术 X射线经偏振靶偏振后,再作为激发光源照射到样品上,可以保证待测元素最佳激发状态,并减少散射和干扰,从而大大降低背景,提高测试灵敏度和信噪比。 |
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三、超短光路设计 由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,华唯以30年XRF领域研发积淀为基础,结合华唯人对XRF技术领域的卓越领悟力,华唯计量设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于环保无卤指令检测。 |
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四、精密机械设计 真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。 |
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五、无标样技术 XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。华唯集结30年的技术积累,独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,业内唯一,华唯引领行业持续发展。 |
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六、二次滤光技术 采用行业领先的二次滤光技术,测试金属样品中的管控元素精度明显提高了1倍,同时灵活的滤光机构设计,可根据客户需求的侧重而定制滤光系统。 |
东莞市全壹检测设备有限公司
联系人:
谢先生
服务热线:
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公司地址:
中国广东东莞万江区滘联社区一横路88号
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