SDD接收器电镀层测厚仪 首饰手表电镀镀层分析仪 下照射X射线荧光光谱仪 国产镀层测厚仪
| 价格 | ￥250000.00/套 | |
| 起订量 | ≥1 | |
| 所在地 | 广东 深圳 | 可售量 10000套 |
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基本参数
| 品牌 | ELITE | 电源 | 交流 |
| 屏幕色彩 | 彩色 | 电源电压 | 220V |
| 型号 | XAU-50A | 额定电压 | 220V |
| 额定功率 | 220V | 执行质量标准 | 国标 |
| 质量认证 | CCC | 类型 | 镀层测厚仪 |
| 产地 | 深圳 | 测量范围 | 0.05um-50um |
| 分辨率 | 0.05um | 显示方式 | 数显 |
XAU系列能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的高效率镀层测厚仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试极微小和异形样品。
含量分析检出限最低1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，最小测量面积0.04mm2 · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，特殊要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
| 技术参数： |
| 1.探测器：半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
2.探测器分辨率：130±5ev (可检测元素范围：钠（Na）~铀（U）) |
| 3.涂镀层分析范围：各种元素及有机物 |
| 4.可一次性同时分析：23层镀层，24种元素 |
| 5.最小测量面积：0.04mm2 |
| 6.对焦距离：0-30mm，特殊要求可达90mm |
| 7.样品腔尺寸：500mm×360mm×215mm |
| 8.仪器尺寸：550mm×480mm×470mm |
9.仪器重量：45kg |
| 仪器配置： |
| 1.微焦X射线发生器 |
| 2.光路转换聚焦系统 |
| 3.高敏变焦测距装置 |
| 4.半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
| 5.先进的数字多道分析 |
| 6.高精度微型移动滑轨 |
| 7.标准片Ni/Fe 5um |
| 8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
深圳市美程精密电子有限公司
联系人：
杨健销售经理
服务热线：
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公司地址：
深圳市宝安区松岗街道溪头社区八工业区工业四路2号C栋君琦智慧商务园3016
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