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XAU-4C(B) X射线荧光光谱仪

价格 188000.00/套
起订量 ≥1
所在地 广东 深圳 可售量 10000套

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基本参数

品牌 ELITE 重量 90kg
类型 镀层测厚仪 电压 220v
产地 深圳 测量方法 X射线荧光光谱
适用范围 多元素分析仪器 测量面积 最小0.002mm2
测量范围 23层镀层,24钟元素 仪器优势 同元素不同层分析
仪器特点 可变焦对焦 型号 XAU-4C(B)
测量时间 3-200s

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。   

4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。   

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。   

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 

 

核心的EFP算法

       专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,多元迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换的技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

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RoHS检测及标定

XAU-4C(B)4

 

XAU-4C(B)5

 

XAU-4C(B)6


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