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IRD-LHI807TCG20/3376热释电红外传感器EXCELITAS

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基本参数

品牌 EXCELITAS 型号 IRD-LHI807TCG20/3376
制作工艺 薄膜 输出信号 模拟型
产品认证 UL 分辨率
材料 塑料 材料晶体结构 多晶
材料物理性质 导体

IRD-LHI807TCG20/3376热释电红外传感器EXCELITAS

威星(上海)贸易有限公司

Winshine (Shanghai) Trading Co., Ltd.

负责人:马先生

地址:上海市浦东新区沪南路3419号

ADD:No.3419,Hunan Rd,Pudong New Dristrict,Shanghai,China



专业提供原装进口MRO工业配件工控产品、备品备件,为了快速帮您报价,请您提供所需产品品牌+完整型号+数量+贵司名称/传真 ,如有特别产品需另附铭牌/图片/订货号等等会另行通知,需要选型的尽可能多提供技术参数,谢谢合作!


传感器ht: 13.5pt;">
视觉传感器 4|3|视觉检测系统用|相机拍照采集图像,通过线缆将数据传送至视觉传感器,由其将信息送至电脑进行数据分析|COGNEX|DMR-8600-0400||
视觉传感器 4|3|视觉检测系统用|通过线缆将数据传送至视觉传感器,由其将信息送至电脑进行数据分析|COGNEX|DMR-8050X-0602||
视觉传感器 4|3|视觉检测系统用 适用机型DMR系列|传送图像信息|COGNEX|MX1502X-DL-AND||
视觉传感器 4|3|视觉检测系统用|传送图像信息|COGNEX|MX1502X-LR-AND||
视觉传感器 4|3|视觉检测系统用|相机拍照采集图像,通过线缆将数据传送至视觉传感器,由其将信息送至电脑进行数据分析|COGNEX|DMR-8600-0400||
印刷检测装置 4|3|检测产品印刷缺陷|通过摄像头拍摄印刷品的表面图像检测印刷错误缺陷|DAC|TRINITY TLC702M
通用光电传感器 4|0|铜电镀设备用|通过光学原理检测物体位置功能|PANSONIC牌|型号EX-13EBD
光学传感器 硅片清洗机用;通过光学原理检测位置功能;SHINKO ELECTRIC牌;型号:639Y4591;无GTIN;无CAS
纸币识别器 4|3|自助设备用|识别纸币功能|Innovative Technology牌|payout|||原理:通过光学传感器扫描纸币,对比数据,判别纸币
纸币识别器 4|3|自助设备用|识别纸币功能|Innovative Technology牌|NV 9|||套含钱箱,面板(独立包装)/原理:通过光学传感器扫描纸币,对比数据,判别纸币
纸币识别器 4|3|自助设备用|识别纸币功能|Innovative Technology牌|NV200 Spectral|||原理:通过光学传感器扫描纸币,对比数据,判别纸币
光电传感器 4|3|位置检测用|光电原理检测锅体是否输送到指定位置|Panasonic|FAYTCA00120
外观自动光学检查机 4|3|生产柔性线路封装基板用|使用自动光学检查系统对最终的成品进行线路及外观检查,保证复核客户品质要求|INSPEC|TV7200-C2
光学位置传感器 刻蚀机用;光学原理检测位置功能;EGT牌;型号:90X40X7T;无GTIN;无CAS
触控测试盒 4|3|用于连接产品做测试|触控讯号转接|HIMAX|HITOUCH_MB_I2CSPI_EV_BD
手持光学测量系统 4|3|利用光学原理测量物体的实体尺寸和外形|测量实体图形|CREAFORM|HANDY SCAN 307||无CAS号
手持光学测量系统 4|3|利用光学原理测量物体的实体尺寸和外形|测量实体图形|CREAFORM|HANDY SCAN 307/Elite||无CAS号
视觉传感器 4|3|用于光学测量|测量浇口杯铁水的高度|SENSOR TO IMAGE|V10540
红外传感器 4|3|通讯设备用|偏转的角度和输出的光强成正比,通过输出光照射就可以获得数字化的光强|AMPHENOL|ZTP-148SR型|||
光学传感器 4|3|通讯设备用|偏转的角度和输出的光强成正比,通过输出光照射就可以获得数字化的光强|Osram|SFH 5701 A01型|||
光学传感器 4|3|用于空调制冷系统|传导电信号|HENRY|HOC1-230-3
热释电红外传感器 4|3|用于墙壁开关、安全系统或防盗报警器等|通过菲涅尔透镜光学系统,接受并聚集待测物体释放出的红外辐射,红外传感器再将透镜传递过来的红外辐射转换为电信号|EXCELITAS牌|IRD-PYS3228TCG5G20/3457 IR DETECTOR|||组成部件:菲涅尔透镜、传感器探测元和场效应管匹配器等
热释电红外传感器 4|3|用于墙壁开关、安全系统或防盗报警器等|通过菲涅尔透镜光学系统,接受并聚集待测物体释放出的红外辐射,红外传感器再将透镜传递过来的红外辐射转换为电信号|EXCELITAS牌|IRD-LHI807TCG20/3376|||组成部件:菲涅尔透镜、传感器探测元和场效应管匹配器等
光电传感器 4|3|智能白板产品|通过电红外传感器检测红外线,经过内部放大器方大及模数转换输出数字信号|Panasonic牌等|EKMC1601112型等
光纤传感器 4|3|灌装机用|将被测对象的状态转变为可测的光信号|KEYENCE|FS-V31CP
前置摄像主动安全模块 4|3|用于车辆主动安全系统|通过内部的图像处理芯片对所采集到的图像进行识别和处理,标记目标参数信息,计算目标的参数信息,如位置、速度等,然后将目标参数信息交付给主动安全ECU实现主动安全功能|沃尔沃牌|32327191
液体检漏传感器 4|3|检测液体是否泄露|通过用光强变化检测判定是否泄露|PARASONIC|EX-F61
光电传感器 0|3|ATM机用|通过光电感应原理,实现感应钞票是否到达位置|无品牌|000000001750086597
光电传感器 4|3|ATM机用|被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号|KODENSHI CORP.|49271656000A
光电传感器 4|3|ATM机用|被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号|KODENSHI CORP.|49271655000A
光电传感器 4|3|ATM机用|被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号|AUE Corp.|49267156000A
光电传感器 4|3|ATM机用|被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号|AUE Corp.|49267163000A
光学位置传感器 4|3|检测晶圆的位置|光学原理检测晶圆的位置|APPLIED MATERIALS|无型号
光学位置传感器 4|3|检测晶圆的位置|光学原理检测晶圆的位置|APPLIED MATERIALS|无型号
地物光谱仪 4|3|通过对矿物岩石土壤等地物的测量获取其光谱辐射特性,从而了解该测量模板的相应物质含量。|地物反射光经仪器后转化为可读数据信息,京分析活的地物目标的光谱辐亮度,从而了解测量模板的相应物质含量。|ASD|FieldSpec 4 Hi-Res
数字便携式激光测振仪 4|| 用于机械设备故障检测|测量被测表面的振动速度、位移、频率和加速度等物理量|Polytec|VGO-200
打印机用光学传感器 SENSOR-RP A;SL-FIN701B,3.3V,12MA,PS122GD
前向识别摄像传感器/丰田 4|3|用途:车辆预碰撞系统、车道偏离系统及动态雷达巡航控制系统|功能:通过传感器识别前方道路影像,探测前方车辆位置信息、车辆对白线或黄色车道标记位置信息,检测车辆是否偏离当前车道,或是否与其他车辆有碰撞危险,并将信息反馈至ECU|品牌:丰田|型号:8646C4804000等
前向识别摄像传感器/丰田 4|3|用途:车辆预碰撞系统、车道偏离系统及动态雷达巡航控制系统|功能:通过传感器识别前方道路影像,探测前方车辆位置信息、车辆对白线或黄色车道标记位置信息,检测车辆是否偏离当前车道,或是否与其他车辆有碰撞危险,并将信息反馈至ECU|品牌:丰田|型号:8646C0605000
对刀仪 4|3|测量各类孔加工刀具,如镗刀、铣刀、钻刀、钻头、绞刀、成型刀具的如下参数:前角、后角、螺旋角、轮廓形状等|非接触式全自动数控测量|品牌:ZOLLER|型号:genius 3 m|||含有配件,详见清单
传感器 4|3|用于制造半导体器件设备等光学传感器|利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置|KEYENCE|102268675|||
传感器 4|3|用于制造半导体器件设备等通用传感器|起传感光电信号的作用|Applied Materials|0010-09672|||
传感器 4|3|用于制造半导体器件设备等|通用光学传感器,利用光学原理达到感应物体位移状况的目的|品牌AMAT|型号0090-77286|||
光功率计 4|3|光学检测用|检测光的功率及强弱功能|NEWPORT牌|1936-R型
光学检测机 4|3|旧,用途;PCBA制造过程中,检查零件有无缺件或偏移|功能;基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测|品牌;CYBEROPTICS |型号;QX500|||生产日期2011年,可使用20年,已使用9年,还可使用11年,残值率10%
光学检测机 4|3|旧,用途;PCBA制造过程中,检查零件有无缺件或偏移|功能;基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测|品牌;CYBEROPTICS|型号;QX500|||生产日期2011年,可使用20年,已使用9年,还可使用11年,残值率10%
锡膏检测仪 4|3|旧,用途;PCBA制造过程中,检查光板上印的锡膏是否在标准范围内|功能;PCBA制造过程中,检查光板上印的锡膏是否在标准范围内|品牌;CYBEROPTICS|型号;SE500 |||生产日期2011年,可使用20年,已使用9年,还可使用11年,残值率10%
光电传感器 用于打印机,光信号转变为电信号,可天士等,PS122等
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|UM-Z3DS-38S型
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|F85RN型
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|FU901BC型
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|F80R型
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|GSM2RSN型
光电传感器 4|3|自动背光源组装机上用|通过红外光线感应物体是否通过,并将信号传输给编程仪|竹中牌|HDA300A型
红外热像仪 4|3|用途:非接触式检测温度分布场,测物体表面温度|功能:将红外光谱转化为电信号,并显示成图像|品牌:TELOPS|型号:FAST M100K
手机零部件尺寸检测仪(旧) 1|3|用于检测手机后盖的音量键,电源键和支架排线的尺寸|通过光学取像镭射测高并结合软件分析对产品尺寸进行检测|博众牌|Aston-BBS1型
光电传感器 4|3|光刻机专用|测量信号用|ASML牌|无型号
光电传感器 4|3|制造半导体器件设备用|利用光学原理传感光电信号功能|品牌AMAT|型号1400-01056
手机零部件尺寸检测仪(旧) 1|3|用于检测手机按键垫片的尺寸工站|通过光学取像并结合软件分析对产品尺寸进行检测|博众牌|BZ-037-17-VN0.152型
光电传感器
3D感测器 4|3|用于量测产品的高度和厚度|用光学原理量测产品的高度和厚度|Precitec牌|CHRocodile CLS O'OEM型
光电传感器 0|3|光学扫描检测仪用|通过光线变化感应位置|无品牌|811-16754/EE-SX672A
根系监测分析系统 4||获取|植物|PMT|PMT-RTC-A4W
光电传感器 AW020198
光电传感器 GW020024
光电传感器
光电传感器
光学位置检测仪 4|3|用于扫描物料、编码尺、以确定位置,非一般图像扫描|用于移动设备的位置***定位|P+F|WCS3B-LS221等
镭射光学尺 4|3|用于TFT-LCD液晶屏制造行业阵列工艺生产线|阵列曝光机通过镭射光学尺,实时测量液晶玻璃基板平台4个角方位上升/下降的距离,与便于监控该平台表面水平度变化情况。|品牌MAGNESCALE|型号BL57-006REC5T08
高速外观检测机 4|3|利用光学原理,自动检测电子零件的外观质量|将待检测电感放置于检测台上,利用检测台周围CCD相机模组取得电感的外观图片,将取得图片与系统设定值进行对比,以此来判断是否存在破损、刮伤、缺角等外观瑕疵问|DELTA牌|型号CSG-800
光电传感器 4|3|扩散炉用|光学原理检测位置功能|品牌TAKENAKA ELECTRONIC INDUSTRIAL|型号:2HOT001185
磁石高度测定装置 4|3|磁石高度测定设备用|通过光反射测量物表面高度,将信号传给分析设备分析出高度|ALPS|FGQ2Z0J2622_P005
传感器 NTC THERM SMD 22K 5% 1206
激光叉 4|3|主要应用管子部件的几何尺寸测量|管子部件的几何尺寸测量|RPS|EVO50
激光叉 4|3|主要应用管子零部件的几何尺寸测量|管子零部件的几何尺寸测量|RPS|EVO80
全自动免疫印迹仪EBO 4|3|用途:光学成像仪器,实验室用|功能:光学射线通过检测膜条,检测出诊断结果,并在系统中建立患者数据库|品牌:EUROIMMUN|型号:YG0153-0101
三维激光扫描测量仪(旧) 4|3|用途:获得高***度扫描数据,制造,建筑,考古,刑侦|功能:用于大空间3D扫描, 测量|品牌:FARO|型号:无型号|||序列号:LLS081709726
电子背散射衍射分析系统 4|3|作为接收背散射电子衍射花样、分析样品中晶体学信息的EBSD系统,对于来自不同晶粒的不同电子通道花样来进行分析、计算,给出的结果是样品微区的晶粒取向、相结构等数据|电子背散射衍射(EBSD)是安装在扫描电镜(SEM)上的附件,它扩展了电镜的功能,形成综合的微观分析


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