苏州实谱仪器有限公司

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x射线荧光分析仪EDX4500能量色散型矿石炉渣有色金属成分分析仪

价格	￥280000.00/台	￥250000.00/台
起订量	≥1	≥3
所在地	江苏苏州	可售量 99台

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基本参数

品牌	实谱	型号	EDX4500B
加工定制	是	结构型式	台式
质量认证	CE	分析时间	30s
类型	元素分析仪器	执行质量标准	国标
电源电压	220V	适用范围	矿石分析，石灰石分析，铜合金分析，元素分析
重量	55kg	产地	江苏
材质	ABS	产品名称	x荧光分析仪
用途	ROHS、合金、地矿、镀层

EDX 4500B X射线荧光分析仪是利用XRF技术解决复杂成份中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；采用SDD硅漂移探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

台式X射线荧光分析仪能量色散EDX光谱仪的型号：EDX4500B

X光管：Rh靶材；50W；

高压：50KV；1mA

探测器：SDD（硅飘移探测器）

配置真空装置，包括真空泵

测试元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等

X射线荧光分析仪的基本原理：

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：

λ=K(Z-s)-2

这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析

产品技术指标：

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量最薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA