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金属膜厚仪回收 金属膜厚仪 FISCHER德国菲希尔

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基本参数

品牌 FISCHER德国菲希尔 型号 xdlm 237
新旧程度 9成新 加工定制 宽×深×高[mm]:570×760×650,内部尺寸宽×深×高[mm]:460×495x
类型 X射线荧光光谱测厚仪 材料 105 kg
品牌 fischer 产地 德国
型号 xdlm 237 元素范围 氯Cl(17)至铀U(92)–同时多达24种元素
设计用途 能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于确定薄涂层,小结构,痕迹和合金。 设计理念 台式仪器,测量门向上开启
测量方向 由上往下 X射线源 带铍窗口的钨管
高压 可调: 30 kV,40 kV,50 kV 孔径准直器 4倍可更改:?0.1毫米

二手FISCHERSCOPE?-X-RAYXDLM?仪器转让,安装、调试、人员培训一站式服务
公司宗旨:公司一贯坚持“质量,用户至上,优质服务,”的宗旨,凭借着高质量的产品,良好的信誉,优质的服务,产品畅销全国.竭诚与国内外商家双赢合作,共同发展,共创辉煌。深圳美程精密电子有限公司将以优质产品、优势价格、优秀服务,为您提供性高价比的解决方案。
FISCHERSCOPE XDAL237 x射线镀层测厚仪
来自德国菲希尔的X射线荧光测量仪,带有快速可编程的XY平台和Z轴,可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器可以用来测量SnPb焊层中的铅含量。

FISCHERSCOPE XDAL237 x射线镀层测厚仪

一一一 X射线荧光测量仪,带有快速可编程的XY平台和Z轴,可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器可以用来测量SnPb焊层中的铅含量。在这一- 应用中,首先要准确测量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工业中高可靠性的要求,为避免裂纹的出现,合金中Pb的含量至少必须在3%以上。另一方面,对于日常使用的电子产品,根据RoHS指令要求,Pb在焊料中的含量最多不能超过1000ppm.尽管XDAL测量Pb含量的测量下限取决于SnPb镀层的厚度,但是通常情况下XDAL的测量下限足够低,可以很轻易达到以上的测量需求。

凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上,FISCHERSCOPE XRAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上,使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器,从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而,这台仪器适合于一般材料分析,痕量元素分析及测量薄镀层厚度。


X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而,由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说),信号强度低,故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似,准直器和基本滤片是可自动切换,以便为不同测量程式创造良好的激励条件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置z高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。

典型应用领域:
?镀层与合金的材料分析(包括薄镀层以及低含量)。来料检验,生产监控。
?研发项目
?电子行业
?接插件和触点
?黄金、珠宝及手表行业
?测量印刷线路板上仅数个纳米的Au和Pd镀层
?痕量分析
?根据高可靠性要求测量铅Pb含量
?分析硬质镀层材料

PCB装配:含铅量测试

高速锅贴头: TiN/Fe

特性:
X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务
由于测量距离可以调节(最大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试
使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)

应用:

镀层厚度测量:
大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析:
电镀槽液分析
电子和半导体行业中的功能性镀层分析

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