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深圳市泰立仪器仪表有限公司
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所在地区:广东省 深圳市
主营产品: 金属材料检测分析, 金属电导率和磁力测量, 无损检测, 金相理化设备,
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基本参数
品牌 | SONATEST | 型号 | RSflite |
重量 | 1.06 Kg | 尺寸 | 125 x 150 x 155 mm |
是否进口 | 是 | 订货号 | RSflite |
加工定制 | 是 | 货号 | RSflite |
类型 | 超声波 | 是否跨境货源 | 是 |
英国SONATEST超声波检测系统 RSflite 复合材料超声波无损检测
快速 集成 便携
复合材料行业需要的检测解决方案。
RSflite 便携式超声波快速扫描仪
专门针对空中客车的各类零件进行检测,如蜂窝结构,碳纤维板,大型复合材料等。系统也专门针对于冶金和机械工业领域的各种有色,黑色金属材料及制品如材/棒材/管材以及各种大型结构件的C扫描检测。
本系统是着眼于方便用户在不同环境下,轻便而又快速的实现高性能C扫描图。 RSflite配合专用的滚轮阵列探头能立刻提供A、B和C扫描实时图像方便快捷。在实时图像中,操作人员能在C扫描图像上判断缺陷大小,位
置和深度,达到定位定标的效果。各种工件形状可选用合适的滚轮阵列探头或滑行阵列探头。在230mm/s速度下快速移动并可进行每秒230线的扫描结果。
2分钟内可对1㎡面积内的航空结构材料达到0.8*0.8mm高分辨率的扫描。
多年来,超声波无损检测(NDT)帮助工程师们检查各种复合材料。无论是传统的铝层压板还是现今更复杂的碳纤维复合材料,超声波无损检测技术都能够通过声学方式查看这些零件并创建完整的检测图。可以生成与传统X射线一样的易于理解的成像报告并支持全体积的完整报告。
聲納与行业领dao者携手合作六十载,很荣幸推出新一代快速扫描便携式超声解决方案设备:RSflite,UTmap 和 WheelProbe2 线性阵列。
复合材料超声波无损检测的挑战
在检查复合材料时,能覆盖较大的近表面是一个重要的挑战。多年来,超声波线性扫描已经证明了可以解决这个问题。
记录扫描信息的位置和重叠,本身也是一个挑战。UTmap独特的拼接功能可以解决这个问题,因为每条扫描数据都可以
在T扫描工作区上精que的重新对齐
主要性能
优势
主要性能
优势
主要性能
优势
无损检测 color: rgb(255, 156, 0);">英国SONATEST超声波检测系统 RSflite 复合材料超声波无损检测
|
线性扫描 |
常规 UT |
系统带宽 |
0.2- 23 MHz |
0.2 - 18 MHz |
脉冲电压 |
100V - 50V ActiveEdge? |
400V - 100V ActiveEdge? |
通道 |
128 通道 |
2 通道 |
增益范围 |
80dB |
100dB |
*大 PRF |
50 000 Hz |
20 000 Hz |
L扫描分辨率 |
1,2,3... 晶片步进 & 双晶分辨率 |
|
数据通量和存储量 |
155 MB/sec & 128 GB SSD (无文件大小限制) |
|
屏幕尺寸 |
TOUCH 10.4" wide, LED-backlit LCD,分辨率1024 x 600 |
|
通讯接口 |
WiFi 802.11n, 以太网Gigabits & 3 master USB2 |
|
校准标准 |
ISO18563 (EN16392) & EN12668 |
|
操作时间 |
6.6h (电池支持热插拔) |
|
操作温度 |
-10°C ~ 40°C (14°F to 104°F) |
|
尺寸 |
115 x 220 x 335 mm (4.52 x 8.66 x 13.19 in) |
|
重量 |
4.80 kg (10.5 lb) 不含电池, 电池460 g/ (1 lb) |
|
分析软件 |
UTmap 支持 Windows? 7-8-10 & 64-bit OS |
|
远程控制软件 |
Xpair 支持 Windows? 7-8-10 OS |
WP2探头 技术参数
耦合滚轮 |
专li橡胶-*jia声学性能 |
近表面分辨率 |
可达0.8 mm (0.032 in) |
探头频率 |
2 MHz, 3.5 MHz, 5 MHz 或 10 MHz |
探头阵列规格 |
64晶片, pitch 0.8mm |
探头激活长度 |
51 mm (2 in) |
可拆卸电缆线 |
标准的 2.5m和 5m 或根据客户要求定制 |
重量 |
1.06 Kg (2.34 lb) 轻量聚合物支架 |
尺寸 (H x L x W) |
125 x 150 x 155 mm (4.9 x 5.9 x 6.1 in) |
操作温度 |
10~ 50 °C (50-122°F) |
UTmap 技术参数
重新捕捉工具 |
T扫描拼接用于精que的C扫描定位 |
T扫描重叠覆盖可实现精que的数据调整 |
|
C扫描重选(单独或同步) |
|
单独的C扫描软件可以进行微调 |
|
分析工具 |
行业标准和定制调色板 |
自动缺陷测量和统计 |
|
实时缺陷区轮廓 |
|
条件缺陷标准(深度和幅度) |
|
报告工具 |
CAD和图像叠加 |
几何和手绘游标 |
|
自动生成PDF报告 |
|
定制测量选择 |
|
上等报告(CSV 输出) |
|
文件格式 |
Sonatest .UTDATA &.TSCAN 格式 |
操作系统 |
Windows? 7-8-10 & 64-bit OS |
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深圳市泰立仪器仪表有限公司
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泰立
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公司地址:
深圳市龙岗区龙翔大道9009号珠江广场A2栋13D
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