拓普康topcon分光辐射计分光放射计SR-LEDW-5N

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千斗工业设备(苏州)有限公司

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基本参数

千斗工业品-专注生产检测设备、电子测试设备、理化分析仪器、计量工具、工业控制仪表等日本与韩国工业品一站式代购与销售，如有需要可直接致电咨询。

我们公司再日本与韩国设有采购办事处，与多个厂家有业务来往，采购工业品厂家直接供货价格方面有一定优惠。如果您需要的工业品确定是日本或是韩国，就可以向我们千斗工业设备咨询价格。

声明关于价格问题请以咨询价格为准，标注价格仅供展示。

日本拓普康topcon 分光辐射计分光放射计 SR-LEDW-5N

支持广泛动态范围的光谱仪。SR-LEDW光谱波长宽度为5nm模型。

主要规格

受光元件	电子冷却线性阵列传感器
波长色散元件	衍射光栅
光学系统	物镜：f = 82mm F2.5，准直镜：观察视野5°
测量角度	2/1 / 0.2 / 0.1°*电气开关类型
数据位	14位
测量距离	350mm?∞（距物镜顶端的距离）
光谱波长宽度	5nm（半宽）
波长精度	发射线±0.3nm *汞
测量波长范围	380-780纳米
波长分辨率	1纳米
测量方式	自动/手动（累积时间/频率），外部垂直同步信号输入
测量内容	光谱辐射率：W ? sr-1，m-2 ? nm-1
计算内容	发光度Le：W·sr-1m-2，亮度Lv：cd ? m-2 CIE1931色度坐标xy，CIE1976色度坐标u&＃39;v&＃39;三色值XYZ，相关色温（Tc; k），偏差（duv），CIE彩色系统2°/ 10°
亮度测量范围（* 1）（* 2）	2°：0.0005至1,500,000 cd / m 2 1°：0.0015至4,500,000 cd / m 2 0.2°：0.0375至5,000,000 cd / m 2 0.1°：0.15至2,000,000 cd / m 2