杭州微源检测技术有限公司
  • 入驻年限:4
  • 所 在 地:浙江省 杭州市
  • 主营产品: 研发测试 元素杂质 基因毒性杂质 结构确证 生物药工艺残留物研究 其它服务
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微源检测二次离子质谱对固体材料的表面微区分析案例

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所在地 浙江 杭州 可售量 10000个

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基本参数

货号 WYJC-18 发货地 杭州
品牌 微源检测 检测周期 快1天,平均三天出结果
报告形式 中文 单位性质 第三方检测服务
检测类型 二次离子质谱检测 检测物质 固体材料
票据类型 可开发票


二次离子质谱对固体材料的表面微区分析案例

二次离子质谱是一种分析固体材料表面微量成分的检测技术,该技术对元素的检测限非常额高,可以达到ppm甚至ppb几倍。除了分析元素,还可以分析同位素、官能团和分子结构。可用于所有在真空下稳定的固体材料的检测。目前已广泛应用于半导体、生物医学等领域。

技术的原理是用离子束来轰击材料表面,然后用质谱法检测二次离子受离子束轰击后的质量电荷比,一次离子束的能量范围可以从几百到数万电子伏。当轰击材料表面时,一些离子会反射,其他离子会进入固体内部并将能量传递给其他原子,当固体表面原子获得的能量大于溅射阈值时,它们将被溅射到外部,原子团或分子将直接飞溅。通过质谱仪接收到这些二次离子后,可以获得样品组成信息。

SIMS技术通常分为静态(SSIMS)和动态(DSIMS)。静态SSIMS主要用于表面质谱和表面成像。通常只获得表面单原子层信息,可用于分析有机化合物的分子结构。动态DSIMS利用高能高密度离子束轰击材料表面,配合表面扫描和离子溅射获得样品的微区元素和三维元素分布图,反映样品中元素或分子结构的分布。

配备TOF检测器的TOF-SIMS拥有当前表面分析技术中最高的分辨率。微源检测可提供德国ION-TOF先进TOF-SIMS仪器检测为厂家提供完善的SIMS技术解决方案。下图是利用SIMS技术研究聚乙烯材料中添加剂成分和分布情况的案例:质谱图采用静态TOF-SIMS技术研究最表面添加剂的种类,下方则是利用DSIMS研究表面微区1.5微米深度下的几种添加剂分布情况。

公司介绍:

微源检测,是集研发分析测试服务、药物质量研究、基因毒杂质研究、元素杂质研究、结构确认、生物药分析服务等一体,面向全球的独立第三方生物医药研发测试服务公司。

由国内领先的科学服务企业上海泰坦科技股份有限公司(简称:泰坦科技)参股成立,秉承“让检测精准又高效”的价值观:

l资质实验室CMA,CNAS,按照ISO-17025和GMP要求建立的实验室

l建设有1500 平米的高标准生物医药实验室

l专业技术研发团队成员经验丰富,3天出具检测结果

l现有精密分析仪器100 台,均安装网络版审计追踪软件

l已服务100 生物制药企业

l现已成功完成2189个项目

l前期沟通、寄送样品、检测分析、出具报告全程一对一服务

微源检测定制的个性化方案,为客户提供了专业可靠,高效率、高质量、合规的检测分析服务。协助客户解决了检测,分析,测试等各类问题,缩短了工艺验证或方法建立所用的时间,降低研发风险,缩短研发周期,推进产品的市场化进程。

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