西安易恩电气科技有限公司
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  • 主营产品: 功率器件电参数测试 半导体老化测试设备 功率循环测试设备 浪涌电流测试设备 雪崩耐量测试设备
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易恩电气IGBT/晶闸管老化测试系统ENX2020

价格 100000.00/台
起订量 ≥10
所在地 陕西 西安 可售量 10000台

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西安易恩电气科技有限公司

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主营产品: 功率器件电参数测试, 半导体老化测试设备, 功率循环测试设备, 浪涌电流测试设备, 雪崩耐量测试设备,

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基本参数

品牌 易恩电气 型号 ENX2020
测量范围 IGBT/晶闸管 加工定制
类型 多参数测试仪 重量 10
额定功率 1000 电源电压 220V
基本电流 5A 频率 50Hz
最大电流 100A 参比电压 220V
测量电流类型 交流 外形尺寸 96*96mm
显示方式 液晶 装箱数 20
准确度 0.5 售后服务 一年保修
质量认证 CEE 准确度等级 0.5
电压档 110V 外壳材质 PVC
产地 陕西西安

交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。一般情况下,此项试验是对器件在结温(TM℃和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获取相关试验数据。该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC标准。



ENX2020  IGBT/晶闸管老化测试系统


系统组成:

漏电流保护回路 Leakage current protection loop
试验电压保护回路 Test voltage protection loop
高压回路 High voltage circuit
试品漏电流 Sample leakage current
试验电压 Test voltage
温度控制单元 Temperature control unit

技术指标:

晶闸管高温阻断/Thyristor high temperature blocking IGBT高温反偏测试/IGBT high temperature reverse bias test
试验电压

Test voltage

VDRM.VRRM/VRRM   300V- 4000V

连续可调, 50HZ工频

试验电压/Test voltage:

50-5000V ±3%±10V

器件漏电流测试范围/Device leakage current test range:

0.01mA-2mA

0.01mA-1mA±3%±0.01mA

1mA-2mA±3%±0.1mA

测试时间/Test time:计算机设定/Computer setting

测试方法/Test method:器件在特定温度下存储一定时间后,在设定电压下对每只器件同时持续加反压进行测试,每隔1-2秒刷新一遍输出的测试结果,监控各器件反压下漏电流参数,并保存测试数据。

试验电流/Test current IDRM.IRRM/IRRM  1.0mA-200.0mA
试验温度

Test temperature

温度范围:室温-180℃

125℃±3℃;温度波动度±0.5℃

试验工位/Test station  10工位
试验容量/Test capacity  80×16=1280位
加电方式

Charging method

器件试验参数从器件库中导入,ATTM自动加电试验方式,可单通道操作;老化电源可根据设定试验电压和上电时间程控步进加载


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