实谱EDX8000手持式x射线荧光光谱仪适用面更广国产x荧光光谱仪

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所在地	江苏苏州	可售量 9999台

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苏州实谱仪器有限公司

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基本参数

品牌	实谱	型号	edx8000
加工定制	是	类型	光谱分析仪
工作温度	零下20度到60度之间	测量对象	粉末固体液体
测量范围	从硫至铀之间	检测误差	相对误差小于0.05%
分辨率	150±5eV	检测项目	各种金属材料的成分
测量精度	0.05%	重量	小于1.7kg
电压	220V	适用范围	金属回收制造工艺冶炼钢铁
分类	元素分析仪器	分析精度	0.05%
分析元素	24种	管流	50uA—1000uA

手持式x射线荧光光谱仪的基本原理：

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。莫斯莱(H.G.Moseley)发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：

λ=K(Z-s)-2

这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析