陶瓷体积表面电阻率测试仪

陶瓷体积表面电阻率测试仪  试样处置

电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。 测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心，以免可能产生对测试结果有不良影响的杂散电流通道。

测量表面电阻时，不要清洗表面，除非另有协议或规定。 除了同二材料的另 一个试样的未被触模过 的表面可触及被测试样外，表面被测部分不应被任何东西触及。

陶瓷体积表面电阻率测试仪  试验程序

试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。

测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g（两电极之间距离），}lj士1%。然而，如有必要，对薄试样可在有关的规范中规定不同的度。

为测定体积电阻率，应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度，其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。

注：对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。

一般说来，应与条件处理时相同的湿度（漫在液体中的条件处理除外）和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。

陶瓷体积表面电阻率测试仪  计算

1 体积电阻率

体积电阻率按F式计算：

式中：

Pv-------体积电阻率，单位为欧姆米（Ω.m）（或欧姆厘米Ω. Cm）;

Rx-------按11.1测得的体积电阻，单位为欧姆（Ω）:

A 是被保护电极的有效面积，单位为平方米（m2）（或平方厘米（cm2)

h--------试样的平均厚度，单位为米（m)（或厘米（cm））。

在附录中给出了某些特殊的电极装置的有效面积A的计算公式。

对于某些具有高电阻率的材料，电化以前的短路电流Io（见11.1）与电f七期间的稳定电流I，相比不能忽略不计。在这种情况下按下式确定体积电阻：

陶瓷体积表面电阻率测试仪  式中：

RX------------体积电阻，单位为欧姆（Ω）:

UX------------施加电压，单位为伏（V）:

IS--------------为电化期间的稳态电流，单位为安（A），或在电化期间如果电流是变化的，则为1min、

10 min和100min时的值，单位为安（A）;

IO 电化前的短路电流，单位为安（A) o

当IO与 IS方向相同时使用负号，反之使用正号。

2 表面电阻率

表面电阻率应按下式计算：

式中：

PS一一表面电阻率，单位为欧姆（Ω）;

RS一一按11. 2 规定而测得的表面电阻，单位为欧姆（Ω）;

P一一特定使用电极装置中被保护电极的有效周长，单位为米（m）（或厘米（cm）

g一一两电极之间的距离，单位为米（m）（或厘米（cm）

为什么测量时仪器的读数总是不稳？

    一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流，有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律，所以在测量时其读数不稳。

    这不是仪器的问题，而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好，对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。

电阻定律

导体的电阻R跟它的长度L、电阻率ρ成正比，跟它的横截面积S成反比，这个规律就叫电阻定律(law of resistance)，公式为R=ρL/S 。其中ρ：制成电阻的材料的电阻率，L：绕制成电阻的导线长度，S：绕制成电阻的导线横截面积，R：电阻值。

公式：R=ρL/S，R=U/I

ρ——制成电阻的材料电阻率，国际单位制为欧姆 · 米（Ω · m) ；

L——绕制成电阻的导线长度，国际单位制为米（m)；

S——绕制成电阻的导线横截面积，国际单位制为平方米（m2） ；

R——电阻值，国际单位制为欧姆，简称欧（Ω）；

U——电压值，国际单位制为伏特，简称伏（v）；

I——电流值，国际单位制为安培，简称安（A）。

其中：

ρ叫电阻率：某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。是描述材料性质的物理量。国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米，常用单位是欧姆·平方毫米/米。与导体长度L，横截面积S无关，只与物体的材料和温度有关，有些材料的电阻率随着温度的升高而增大，有些反之。

温度影响

温度对不同物质的电阻值均有不同的影晌。

导电体 在接近室温的温度，良导体的电阻值，通常与温度成线性关系：

ρ=ρ0(1+αt)

上式中的 a 称为电阻的温度系数。

未经掺杂的半导体的电阻随温度升高而下降：

有掺杂的半导体变化较为复杂。当温度从绝对零度上升，半导体的电阻先是减少，到了绝大部分的带电粒子 （电子或电洞/空穴） 离开了它们的载体后，电阻会因带电粒子的活动力下降而随温度稍为上升。当温度升得更高，半导体会产生新的载体 （和未经掺杂的半导体一样） ，原有的载体 （因渗杂而产生者） 重要性下降，于是电阻会再度下降。

绝缘体和电解质 绝缘体和电解质的电阻与温度的关系一般不成比例，而且不同物质有不同的变化，故不在此列出概括性的算式。

技术参数：

1、电阻测量范围： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、电流测量范围： 2×10-4A～1×10-16A

3、显 示 方 式：液晶、电阻、电流双显示

4、内置测试电压： 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V（任意切换）；

5、配置：

主机：一台

屏蔽箱+电极：一套

测试线：五条

说明书+合格证+保修卡：各一份

6、使用环境：温度：0℃～40℃，相对湿度<80%

7、供电形式：AC 220V，50HZ，功耗约5W

8、全自动测量、体积小、重量轻、准确度高，电阻、电流双显示，性能好稳定、读数方便

9、所有测试电压(10V/50V/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读

10、基本准确度：≤1%；

测试 

测量时从低档位逐渐拔往高档，每拨一次稍停留1～2秒以使观察显示数字， 当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置，当测量仪器有显示值时应停下，当前的数字乘以档次即是被测电阻值。当有显示数字时不要再往更高次档拨，否测仪器会过量程，机内保护电路开始工作，仪器测量准确度会下降。

表面 电阻 surface resistance

 在试样的其表面上的两电极间所加电压与在规定的电化时间里流过两电极间的电流之商，在两电

极上 可能形 成的极化忽略不计 。

 注 1:除 非 另 有 规 定 ，表 面 电 阻 是 在 电 化 一 分 钟 后 测 定

 注 2 通常电流主要流过试样的一个表面层，但也包括流过试样体积内的成分

应用

电阻率较低的物质被称为导体，常见导体主要为金属，而自然界中导电性 佳的是银，其次为半导体，硅锗。当存在外电场时，金属的自由电子在运动中不断和晶格节点上做热振子的正离子相碰撞，使电子运动受到阻碍，因而就具有了一定的电阻。其他不易导电的物质如玻璃、橡胶等，电阻率较高，一般称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的物质(如硅) 则称半导体。电阻率的科学符号为 ρ(Rho)。 已知物体的电阻，可由电阻率ρ、长度 l 与截面面积A 计算：ρ=RA/I，在该式中， 电阻R 单位为欧姆，长度 l 单位为米，截面面积 A 单位为平方米，电阻率 ρ单位为欧姆·米

范围：

1本试验方法包含直流绝缘电阻，体积电阻和表面电阻的测量所用直流程序。通过该测量及样本和电极的几何尺寸，可以计算出电绝缘材料的体积电阻和表面电阻，同时还可以计算出相应的电导和电导率。

2这些试验方法不适用于测量中等导电材料的电阻/电导。这些材料评估可采用试验方法D4496。

3本标准描述了几种可选择的测量电阻（或电导）的普通备用方法。特殊材料科采用合适的标准ASTM试验方法进行测试，这些特殊材料具有电压应力范围和有限起电时间，同时规定了样本结构和电极几何形状。这些个别特殊试验方法将能更好得定义测量值的精度和偏差。

4本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。

售后内容：

1、设备安装调试：

免费为用户提供所购仪器的安装调试服务。在进行安装调试前用户方应提供相应的准备工作，并予以提前通知，具体安装调试日期双方可以协商而定。设备安装调试由多年行业资深工程师免费进行。保证用户可以正确使用、软件操作和一般维护以及应及故障的处理。

2、培 训：

我公司工程师免费为用户提供操作人员培训，直到操作人员能独立操作为止。

3、设备验收标准：用户方按订货技术要求进行验收。并符合国家标准要求。设备验收在用户方进行并由我公司安装调试技术人员和用户共同在维修报告上签字以确认仪器的调试工作完成。

4、设备维修服务：

我公司产品自用户现场调试验收合格后 1 年内免费保修，终身维护。在1 年免费保修期内产品发生非人为质量问题，我公司为客户提供免费维修。如产品在免费保修期外出现故障，维修服务只适当收取材料成本费。

5、技术支持：对于所需仪器的用户，根据用户的要求提供专业的技术方案。除了常规的仪器服务外，我公司技术部还可为用户提供各种非常规设备的技术支持。

6、售后响应：在接到用户维修邀请后，2 小时内做出反应，并给予解决。如未解决，我公司指派工程师及时到达用户现场，解决问题至设备正常使用为止。

7、我公司派工程师负责安装调试及培训。

8、产品自客户验收之日起，免费保修 2 年，终身维修。