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苏州实谱仪器有限公司
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基本参数
品牌 | 实谱 | 外形尺寸 | 400*395mm |
重量 | 小于35公斤 | 屏幕色彩 | 彩色 |
质量认证 | CE | 类型 | x射线镀层测厚仪 |
电压 | 220V | 产地 | 江苏苏州 |
测量方法 | x射线荧光法 | 适用范围 | 电镀产品 通信连接件 PCB w五金件 |
精度 | RSD小于5% | 型号 | thick880 |
靶材 | 钨靶 | 稳定性 | 0.05% |
探测器 | Si-pin 6mm2 | 工作温度 | 小于75度 |
主要技术指标:
一、分析范围
1、分析元素:Ti(钛)~U(铀);
2、检测范围:同时可以分析几十种以上元素,五层镀层;
3、分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品;
4、多次测量重复性可达0.1%;
5、长期工作稳定性可达0.1%
二、高压电源(激发X射线光管产生X射线)
1、输出:0 to 50 kV at 0 to 2 mA,最高功率75W;
2、温度系数:0.01% per °C;
3、稳定性:0.05% per 8 hours (30分钟预热以后)。
三、X射线管
1、管压:5-50KV;
2、管流:50-1000uA;
3、靶材:W靶;
4、窗口:铍窗;
5、制冷方式:风冷;
6、工作温度:≤75℃。
四、X射线Si-pin半导体检测器
1、探测面积:6mm2;
2、铍窗厚度:0.5mil;
3、分辨率:≤0.165keV。
五、数字多道幅度分析器
1、分辨率:32us成型时间≤0.165keV;
2、计数通过率:6.4us可达20Kcps以上。
六、摄像头:130万象素 CCD 摄像头。
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